Стандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE P1687

Автор: Ами Городецкий, к.т.н., гл. технолог, JTAG.TECT (amigo@jtag-test.ru); Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT (leo@jtag-test.ru)

function AddBookmark(url, title) { if (window.sidebar) { // Mozilla Firefox Bookmark window.sidebar.addPanel(title, url, ""); } else if( window.external ) { // IE Favorite window.external.AddFavorite( url, title); } else if(window.opera && window.print) { // Opera Hotlist return true; } } -->
Постоянный адрес материала: http://www.pixeli.su/developer-r/review/2376/doc/56592/
   

		© 2007 Издательский дом Электроника

 
Notice: Undefined variable: ee in /var/www/user1407115/data/www/pixeli.su/add/niz.php on line 2

Notice: Undefined variable: ee in /var/www/user1407115/data/www/pixeli.su/add/niz.php on line 14